# วิธีทดสอบ PCB: เปรียบเทียบ 7 วิธี
การทดสอบ PCB และ PCBA เป็นขั้นตอนสำคัญที่ไม่ควรมองข้าม เพราะเป็นด่านสุดท้ายที่จะตรวจจับข้อบกพร่องก่อนส่งมอบให้ลูกค้า บทความนี้จะพาคุณทำความรู้จักกับวิธีทดสอบทั้ง 7 แบบ พร้อมแนะนำวิธีเลือกให้เหมาะกับปริมาณการผลิตและงบประมาณ
---
สารบัญ
- ภาพรวมการทดสอบ
- การตรวจสอบด้วยสายตา
- AOI (ตรวจสอบอัตโนมัติ)
- การตรวจสอบด้วยรังสีเอกซ์
- ICT (ทดสอบวงจร)
- Flying Probe
- FCT (ทดสอบการทำงาน)
- Burn-in (ทดสอบความเชื่อถือได้)
- ตารางเปรียบเทียบ
---
ภาพรวมการทดสอบ {#overview}
การทดสอบ PCB และ PCBA แบ่งออกเป็นหลายขั้นตอนตามกระบวนการผลิต:
ขั้นตอนการผลิตแผ่น PCB
| การทดสอบ | จุดประสงค์ |
|---|---|
| ทดสอบไฟฟ้า (E-Test) | ตรวจหาวงจรเปิดและลัดวงจรบนแผ่นเปล่า |
| ตรวจสอบด้วยสายตา/AOI | ตรวจข้อบกพร่องบนผิวหน้า |
ขั้นตอนการประกอบ SMT
| การทดสอบ | จุดประสงค์ |
|---|---|
| SPI (ตรวจครีมบัดกรี) | ตรวจก่อนเข้าเตาอบ |
| AOI ก่อนอบ | ตรวจหลังวางชิ้นส่วน |
| AOI หลังอบ | ตรวจหลังผ่านเตาอบ |
| รังสีเอกซ์ (ถ้ามี BGA/QFN) | ตรวจจุดบัดกรีที่มองไม่เห็น |
ขั้นตอนทดสอบไฟฟ้า
| การทดสอบ | จุดประสงค์ |
|---|---|
| ICT หรือ Flying Probe | ตรวจค่าชิ้นส่วนและลัดวงจร |
| FCT (ทดสอบการทำงาน) | ตรวจฟังก์ชันของบอร์ด |
ขั้นตอนสุดท้าย
| การทดสอบ | จุดประสงค์ |
|---|---|
| Burn-in (ถ้าจำเป็น) | ค้นหาความเสียหายเริ่มต้น |
| ตรวจสอบสุดท้าย | ตรวจความสมบูรณ์ภายนอก |
---
1. การตรวจสอบด้วยสายตา {#visual}
การตรวจสอบด้วยตาเปล่า
| หัวข้อ | รายละเอียด |
|---|---|
| สิ่งที่ตรวจ | จุดบัดกรี ชิ้นส่วน ความเสียหาย |
| อุปกรณ์ | แว่นขยาย กล้องจุลทรรศน์ |
| ความเร็ว | 30-60 วินาที/บอร์ด |
| ความครอบคลุม | ขึ้นกับผู้ตรวจ ไม่คงที่ |
| ต้นทุน | ต่ำที่สุด |
ข้อจำกัด
- เกิดความผิดพลาดจากมนุษย์ได้
- ผู้ตรวจเหนื่อยล้า
- ผลไม่สม่ำเสมอ
- ไม่เห็นจุดบัดกรีที่ซ่อนอยู่
---
2. AOI (การตรวจสอบอัตโนมัติด้วยแสง) {#aoi}
AOI ใช้กล้องความละเอียดสูงและซอฟต์แวร์ประมวลผลภาพเพื่อตรวจจับข้อบกพร่อง
สิ่งที่ตรวจพบได้:
- ชิ้นส่วนขาดหาย
- ชิ้นส่วนผิดประเภท
- ขั้วกลับ
- ชิ้นส่วนยกตัว (Tombstone)
- บัดกรีเชื่อม (Bridge)
- บัดกรีไม่พอ
- บัดกรีเกิน
- ชิ้นส่วนเลื่อน
- ลูกบัดกรีหลุด
- สิ่งแปลกปลอม
สิ่งที่ตรวจไม่ได้:
| ข้อบกพร่อง | ต้องใช้วิธี |
|---|---|
| จุดบัดกรี BGA/QFN ที่มองไม่เห็น | รังสีเอกซ์ |
| ค่าชิ้นส่วน | ICT |
| ปัญหาการทำงาน | FCT |
| รอยร้าวภายใน | รังสีเอกซ์ |
ข้อมูลจำเพาะ AOI
| พารามิเตอร์ | AOI 2 มิติ | AOI 3 มิติ |
|---|---|---|
| ความเร็วตรวจสอบ | 30-60 ซม²/วินาที | 20-40 ซม²/วินาที |
| ความละเอียด | 15-20 ไมโครเมตร | 10-15 ไมโครเมตร |
| วัดความสูง | ไม่ได้ | ได้ (ปริมาตรบัดกรี) |
| อัตราแจ้งผิดพลาด | 0.5-2% | 0.1-0.5% |
| ช่วงราคา | 50,000-150,000 USD | 150,000-400,000 USD |
---
3. การตรวจสอบด้วยรังสีเอกซ์ {#xray}
เมื่อไหร่ต้องใช้รังสีเอกซ์
จำเป็นเสมอสำหรับ:
- BGA (Ball Grid Array)
- QFN (Quad Flat No-lead)
- LGA (Land Grid Array)
- CSP (Chip Scale Package)
- จุดบัดกรีที่มองไม่เห็น
แนะนำให้ใช้สำหรับ:
- ผลิตภัณฑ์ความน่าเชื่อถือสูง
- อุปกรณ์การแพทย์ระดับ 2-3
- อากาศยาน
- ยานยนต์ที่เกี่ยวกับความปลอดภัย
- ตรวจยืนยันหลังซ่อม BGA
ความสามารถในการตรวจจับ
| ข้อบกพร่อง | ความสามารถ |
|---|---|
| ช่องว่าง (Void) | ดีเยี่ยม |
| Head-in-Pillow | ดี |
| จุดบัดกรีเปิด | ดี |
| ลัดวงจร | ดี |
| ลูกบัดกรีใต้ชิป | ดีเยี่ยม |
| บัดกรีไม่พอ | ดี |
---
4. ICT (การทดสอบวงจร) {#ict}
หลักการทำงาน
ICT ใช้ฟิกซ์เจอร์ที่มีพินสปริง (Spring Probe) สัมผัสกับจุดทดสอบบนบอร์ด เพื่อวัดค่าทางไฟฟ้าของชิ้นส่วนแต่ละตัว
สิ่งที่ทดสอบ:
- ลัดวงจร/วงจรเปิด
- ค่าความต้านทาน
- ค่าตัวเก็บประจุ
- ค่าตัวเหนี่ยวนำ
- ขั้วไดโอด
- การทำงานของทรานซิสเตอร์
- การเชื่อมต่อขา IC
- การวัดอนาล็อก
ข้อดีและข้อเสียของ ICT
| ข้อดี | ข้อเสีย |
|---|---|
| เร็ว (10-60 วินาที/บอร์ด) | ค่าฟิกซ์เจอร์สูง (5,000-30,000 USD) |
| ครอบคลุมข้อบกพร่องสูง (90%+) | ต้องมีจุดทดสอบ |
| ตรวจค่าชิ้นส่วนผิดได้ | มีค่า NRE |
| ผลทำซ้ำได้ | ใช้เวลาทำฟิกซ์เจอร์ |
| เหมาะกับปริมาณมาก | ไม่คุ้มสำหรับปริมาณน้อย |
---
5. Flying Probe {#flying-probe}
หลักการทำงาน
Flying Probe ใช้หัวสัมผัส 4-8 หัว เคลื่อนที่อิสระไปยังจุดต่างๆ บนบอร์ดเพื่อทดสอบ ไม่ต้องใช้ฟิกซ์เจอร์เฉพาะ
เปรียบเทียบ ICT กับ Flying Probe
| ปัจจัย | ICT | Flying Probe |
|---|---|---|
| ค่า NRE | 5,000-30,000 USD | 0-500 USD |
| เวลาทดสอบ | 10-60 วินาที | 2-10 นาที |
| เหมาะสำหรับ | มากกว่า 500 บอร์ด | น้อยกว่า 500 บอร์ด |
| ความยืดหยุ่น | ต่ำ (ขึ้นกับฟิกซ์เจอร์) | สูง (แค่เปลี่ยนโปรแกรม) |
| ความครอบคลุม | 90-95% | 85-90% |
| จุดทดสอบ | จำเป็น | แนะนำ |
---
6. FCT (การทดสอบการทำงาน) {#fct}
ประเภทของ FCT
| ประเภท | คำอธิบาย | ความครอบคลุม |
|---|---|---|
| FCT พื้นฐาน | เปิดเครื่อง ตรวจ LED | ต่ำ |
| FCT มาตรฐาน | ทดสอบอินเทอร์เฟซ I/O | ปานกลาง |
| FCT เต็มรูปแบบ | ทดสอบทุกฟังก์ชัน | สูง |
| HIL (Hardware-in-Loop) | จำลองสภาพแวดล้อมจริง | สูงมาก |
สิ่งที่ FCT ทดสอบ
- การใช้พลังงาน
- ระดับแรงดัน
- การสื่อสาร (UART, SPI, I2C)
- การอ่านค่าเซ็นเซอร์
- การควบคุมมอเตอร์
- เอาต์พุตจอแสดงผล
- อินเทอร์เฟซผู้ใช้
- ฟังก์ชันระบบเต็มรูปแบบ
---
7. Burn-in (การทดสอบความเชื่อถือได้) {#burnin}
จุดประสงค์
จำลองการใช้งานระยะยาวเพื่อค้นหาความเสียหายระยะแรก (Infant Mortality) ที่อาจเกิดขึ้นในช่วงต้นอายุการใช้งาน
| พารามิเตอร์ | ค่าทั่วไป |
|---|---|
| อุณหภูมิ | 85-125°C |
| แรงดัน | ค่าปกติ +10-20% |
| ระยะเวลา | 24-168 ชั่วโมง |
| เปิด-ปิดไฟ | ทางเลือก |
เมื่อไหร่ต้องทำ
- อุปกรณ์การแพทย์ (ระดับ 2-3)
- อากาศยาน/กลาโหม
- อุตสาหกรรมความน่าเชื่อถือสูง
- ระบบความปลอดภัยยานยนต์
- เซิร์ฟเวอร์/ศูนย์ข้อมูล
---
ตารางเปรียบเทียบ {#comparison}
สรุปการเปรียบเทียบ
| วิธี | ความเร็ว | ค่า NRE | ต้นทุน/ชิ้น | ความครอบคลุม | เหมาะสำหรับ |
|---|---|---|---|---|---|
| ตรวจด้วยตา | ปานกลาง | 0 | สูง | 40% | ทุกงาน |
| AOI | เร็ว | 0 | ต่ำ | 70% | ปริมาณมาก |
| รังสีเอกซ์ | ช้า | 0 | สูง | 90%* | BGA/QFN |
| ICT | เร็ว | สูง | ต่ำ | 90% | มากกว่า 500 ชิ้น |
| Flying Probe | ช้า | ต่ำ | สูง | 85% | น้อยกว่า 500 ชิ้น |
| FCT | ปานกลาง | ปานกลาง | ปานกลาง | 95%** | ทุกงาน |
| Burn-in | ช้ามาก | ต่ำ | สูงมาก | - | ความน่าเชื่อถือสูง |
*เฉพาะจุดบัดกรีที่มองไม่เห็น
**ขึ้นกับโปรแกรมทดสอบ
คู่มือเลือกวิธีทดสอบ
| ปริมาณ | วิธีที่แนะนำ |
|---|---|
| น้อยกว่า 100 ชิ้น | ตรวจด้วยตา + Flying Probe + FCT (+ รังสีเอกซ์ถ้ามี BGA) |
| 100-500 ชิ้น | AOI + Flying Probe + FCT (+ รังสีเอกซ์ถ้ามี BGA) |
| 500-5,000 ชิ้น | AOI + ICT + FCT (+ รังสีเอกซ์ถ้ามี BGA) |
| มากกว่า 5,000 ชิ้น | AOI แบบ Inline + ICT + FCT + รังสีเอกซ์ (สุ่มหรือ 100%) + Burn-in สำหรับงานความน่าเชื่อถือสูง |
---
คำถามที่พบบ่อย
คำถาม: ต้องทดสอบทุกวิธีไหม?
คำตอบ: ไม่จำเป็น เลือกตามความต้องการ:
- ขั้นต่ำ: AOI + FCT
- มาตรฐาน: AOI + ICT/Flying Probe + FCT
- ความน่าเชื่อถือสูง: ทั้งหมดข้างต้น + รังสีเอกซ์ + Burn-in
คำถาม: จะได้ความครอบคลุม 100% ได้ไหม?
คำตอบ: ไม่มีวิธีเดียวที่ได้ 100% ต้องผสมหลายวิธี:
| วิธี | ตรวจจับ |
|---|---|
| AOI | ข้อบกพร่องที่มองเห็น |
| ICT | ค่าชิ้นส่วน |
| FCT | การทำงาน |
| รังสีเอกซ์ | จุดบัดกรีที่ซ่อน |
คำถาม: ฟิกซ์เจอร์ ICT คุ้มค่าตั้งแต่กี่ชิ้น?
คำตอบ: คำนวณจุดคุ้มทุนได้ดังนี้:
| รายการ | ค่าใช้จ่าย |
|---|---|
| ค่าฟิกซ์เจอร์ | ประมาณ 10,000 USD |
| Flying Probe | ประมาณ 5 USD/บอร์ด |
| ICT | ประมาณ 0.50 USD/บอร์ด |
| จุดคุ้มทุน | ประมาณ 2,000 บอร์ด |
---
บทสรุป
การเลือกวิธีทดสอบที่เหมาะสมต้องพิจารณาหลายปัจจัย ได้แก่ ปริมาณการผลิต งบประมาณ และอัตราข้อบกพร่องที่ยอมรับได้ ไม่มีวิธีเดียวที่เหมาะกับทุกงาน
> สรุปจากผู้เชี่ยวชาญ: "การประหยัดค่าทดสอบในระยะสั้นอาจนำไปสู่ค่าใช้จ่ายที่สูงกว่ามากในระยะยาว โดยเฉพาะกับผลิตภัณฑ์ที่เกี่ยวข้องกับความปลอดภัย การลงทุนในการทดสอบที่เหมาะสมตั้งแต่แรกคือการลงทุนที่คุ้มค่า" — Hommer Zhao
---
บริการของเรา
PCB Thailand มีบริการทดสอบครบวงจร:
- AOI - ตรวจสอบ 2 มิติ/3 มิติ
- รังสีเอกซ์ - ตรวจสอบ BGA/QFN
- ICT - สำหรับปริมาณมาก
- Flying Probe - สำหรับต้นแบบ/ปริมาณน้อย
- FCT - พัฒนาการทดสอบตามความต้องการ
ติดต่อเรา สำหรับความต้องการด้านการทดสอบ
---
![วิธีทดสอบ PCB: เปรียบเทียบ 7 วิธี [ICT, Flying Probe, FCT, AOI]](/_next/image?url=https%3A%2F%2Fimages.pcbthailand.com%2FPCB-Flying-Probe-Testing.webp&w=3840&q=75)

![SMT Defects: 15 ปัญหาที่พบบ่อยและวิธีแก้ไข [คู่มือ 2024]](/_next/image?url=https%3A%2F%2Fimages.pcbthailand.com%2FPCB-SMT-Pick-and-Place.webp&w=3840&q=75)